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手持式激光诱导击穿光谱仪

品 牌:Bruker

产 地:德国

型 号:HH-LIBS

关键词标签:激光诱导击穿光谱仪;LIBS分析仪;布鲁克手持式LIBS分析仪;手持式LIBS
021-37018108在线留言

       HH-LIBS技术适用于非常快速地合金级标识(alloy grade ID)和化学成分分析;特别是含Li,Mg,Al或Si的轻元素合金。相比于手持式XRF, EOS分析轻元素的速度是前者的约10倍。

    课程可以轻松掌握,非常容易地节省你的时间和金钱。

    速度快是仅仅优势的一方面。EOS将给您准确的、可重复的结果,非常可靠。此外,用户友好的数据传输将方便您轻松地创建自定义报告。

 

EOS 软件特点:

·  直观的图标按钮                   ·  多级用户登录账号管理和用户识别                 ·  板载设备性能检测功能

·  板载突发模式平均功能           ·  类型标准化                                                  ·  检测与标号识别基于先进的化学计量学算法

·  指纹光谱识别模式(Fingerprint spectral ID mode)

丰富的标号库:

       Bruker EOS包含丰富的标号库(400+标号定义),涵盖各种国际标准。用户可选用的标号库: UNS, DIN 以及其它。 Bruker的Toolbox软件,允许用户:

·  修改已有合金标号定义       ·  添加新的合金标号       ·  上传、下载以及在设备之间共用标号库

使用方便:

       EOS 是一款拥有 实验室级别硬件的手持式HH-LIBS 分析仪。但是,用户友好的界面设计令操作和结果展示更加直观明了。数据管理和传输非常容易使用。Data management and transfer are very easy  to use。

·  直观的用户界面—只需点选和测量( point and shoot)               ·  只需很少的操作训练

·  各种场合下的样品识别                  ·  报告生产工具                         ·  轻 –仅2.4kg,包括电池

 

EOS 硬件特点:

空气流光学保护技术Air-Flow Optics ShieldTM:

       HH-LIBS 技术, 与其它光学技术一样,为了获得更准确的分析结果,需要让设备前端尽量靠近被测样品表面,它们之间的距离越短越好。激光烧蚀阶段产生的粉尘就成为内部光学器件受污染的一个重要来源。随着时间的增加,粉尘在光学器件表面逐渐累积,逐步减弱通过的光。如果没有及时清理,将会导致精准度下降的问题。Bruker的EOS具有空气流光学保护技术“Air-Flow Optics Shield”,可以在光学器件表面形成一个持续的空气保护层,有效阻止粉尘堆积,从而让EOS保持非常理想的工作状态。

光栅扫描  :

       由于激光光斑非常小,这样所获得数据就仅限于非常微小的区域。EOS的光栅扫描技术可以让激光束扫描样品上较大的区域。这样就可以给出更具代表性样品检测结果。

多探测器(多光谱)设计  :

       Bruker多探测器的设计使得EOS覆盖扩展波长范围从170纳米到720纳米,并保持优异的分辨率,尤其对复杂金属基体,如钛。广泛的波长范围允许检测的元素,如Li,Be,Si等,这是一个单一的光谱仪系统无法覆盖的。此外,广泛的波长范围也让EOS可以利用替代测量波长,避免频谱重叠从而达到更好的精度。

环境条件  :

       EOS可以在几乎所有环境中现场操作,包括垃圾场这样的潮湿、多尘的环境。

 独特的激光技术 :

       布鲁克的HH-LIBS分析仪,EOS,使用专有的1064 nm激光低背景激光烧蚀原子发射光谱。传统的LIBS系统利用高能量,低重复频率的激光来生成等离子体的设计。这样的设计会导致一个高背景的“噪音”,特别是在频谱的较低端部。布鲁克的1064 nm激光产生强的原子发射信号而不产生高背景辐射,因而不需要复杂的选通系统。利用这一设计,布鲁克的EOS可以很容易地在几秒内分析具挑战性的元素,如Si、Mg<0.1%浓度。

 

应用包含:

·  金属分类和估值

·  Fingerprint ID指纹识别

·  材料确认鉴定和标识 (PMI)

·  轻元素测量

·  Li, Be, Mg, Al, Si

 

 

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马上联系我们的应用团队:info@boyuesh。com

 

 

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